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半導體可靠性測試方案
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • 交互式界面
  • 靈活的測試程序功能
  • 强大的應力/量測工具
  • 支援參數分析和線性擬合的公式程序
  • 簡便的點擊式分析功能
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • 真正的每接脚SMU並聯測試
  • 精準時序和同步功能
  • 單個機架可配置2到44個SMU
  • 手動和自動操作
  • 可根據需要增加硬體、測試規劃和測試庫
  • 相容於常見的全自動探針系統
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • 支援應力/量測循環控制功能
  • 兼容很多JEDEC標準測試方法
  • 大量豐富的前/後應力/量測測試資料庫
  • 支援參數分析和線性擬合的公式程序
  • 帶有分析工具的電子表格
  • 全功能繪圖工具
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