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首頁 / 產品介紹 / 半導體測試系統和軟體 / 半導體參數分析儀

半導體參數分析儀
對於提升研發的技術人員和工程師生產力的參數測試作業，型號4200- SCS半導體特性分析系統結合實驗室級的直流和脈衝元件特性分析、即時繪圖，高精度和次飛安培解析度的分析於一個整合型特性分析系統。其包括型號4210-CVU的電容電壓單元、型號4225-的PMU超快速IV模組、型號4220-PGU脈衝產生單元，以及型號4225- RPM的遠程放大器/開關等選項。吉時利 ACS基礎版軟體是最適合進行元件和離散(封裝)半導體元件的測試。
選購指南
ACS基本版
Model ACS Basic Edition Automated Characterization Suite for Component Characterization
  • 半導體元件特性分析
  • 失效分析
  • 易於適應新技術應用
  • 上百個標準元件測試庫
  • 支援吉時利全系列數位電源電錶和更多設備
4200-SCS半導體參數分析儀
Model 4200-CVU Integrated C-V Option for the Model 4200-SCS
  • 直覺式Windows人機使用界面
  • 單儀器方案
  • 具有I-V、C-V、脈衝產生功能以及脈衝I-V測試功能
  • 包含支援各種技術的應用庫

半導體特性分析電子指南 精準直流電流-電壓、 交流阻抗及超快速或暫態電流-電壓量測

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1-800-935-5595 (在美國境內)