Keithley Instruments Inc. - 半導體特性分析軟體

半導體特性分析軟體

吉時利的自動特性分析套件（ACS）的軟體提供了元件、晶圓或卡帶級的自動化半導體特性分析強大解決方案。 ACS整合測試系統銜接了互動式實驗室型工具與高速生產測試工具。 ACS基礎版是最適合於組件和離散(封裝）半導體元件的台式參數測試，其可大幅地提高研發技術人員和工程師的生產力。ACS-WLR（晶圓級可靠度）綜合測試系統比傳統 WLR測試方案提供快二至五倍的壽命預測速度，其加快技術開發、製程整合和製程監控，以達成更快的上市時間。

選購指南

ACS系統

Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems

多功能合一解决方案：從測試設定到分析結果

相容於常見的全自動探針系統

直覺式人機界面

無需編碼—即使對多重測試特性分析應用

為專門測試開發提供的腳本編輯器

簡單易用的應用庫

可用於測試台和機架式自動化系統

用於WLR的ACS

針對並聯SMU接腳测试而最佳的交互式界面

兼容大多數JEDEC標準測試方法

具有强大和靈活的應力/量測程序功能

支援參數分析和線性擬合的公式程序

能够監測即時測試結果

ACS基本版

Model ACS Basic Edition Automated Characterization Suite for Component Characterization

半導體元件特徵分析

失效分析

易於適應新技術應用

包含支援數百個標準器件的測試庫

支援全系列吉時利數位源表和更多設備

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