S400 DC/RF測試系統

型號:S400UX



主要特性與優點:

    •     主要使用在實驗室元件模擬及製程整合部門的技術發展測試需要
    •     三種不同系統架構可供選擇
    •     經濟實惠的wafer level手機或基地台通訊元件晶片測試方案
    •     可加裝在現有的S400 UNIX架構下
    •     Wafer level S參數測試：
    ◦     元件模擬(所得數據可與現有BSIMPRO，IC-CAP，UTMOST相符合)
    ◦     製程監控(測試項目可將S參數轉換成RF參數，如fmax，ft，Rbb，Q)
    ◦     對複雜訊號的一般分析，包括自訂的相關參數如a1、a2、b1、b2



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