半導體
Document Actions
Keithley是您在半導體測試解決方案值得信賴的領導者，產品範圍從材料研發到生產線上測試。在研發實驗室裡，Keithley的半導體特性分析系統提供優良的靈敏度與彈性，適合材料特性研、元件特性描繪、與驗證新的設計。Keithley同時在產線製程監控的自動參數測試機台居於領先的地位，有多項創新的設計助於加速測試與降低成本。自動參數測試機即為一個例子，在一次探針接觸中同時量測直流與RF參數，另一方面半導體特性系統的軟體介面將測試設定到量測結果簡化到幾個滑鼠操作。Keithley的系統在轉移至新應用時保有較低的轉換成本，很容易地與其他設備(如Handler、高速多通道開關、特殊測試用到的訊號源)通信。欲知Keithley在半導體測試的方案，請點選以下的連結。
- 元件特性分析
- Focus Solutions
- 電容-電容,電荷,低電流,崩潰電壓
- 元件模型-資料擷取與參數萃取
- 二極體-高崩潰電壓,IV曲線
- 奈米電子元件-CV參數
- 奈米電子元件-低阻量測
- 奈米電子元件-奈米電子,單電子電晶體,與分子電子的IV曲線
- 電阻-寬動態範圍,高測試準確度,快速量測
- Transistors - I-V, C-V measurements
- 功能性測試
- Focus Solutions
- 客製化彈性小量功能測試-測試序列,快速過/不過,分類/排序,射頻
- IDDQ(SOC與其他高整合元件)-輸出電壓,量測低電流
- 光學IC與收發器,輸出電壓,量測電流,輸出電流,量測電壓
- 電晶體-IV,CV量測
- 材料特性研究
- Focus Solutions
- 導線/連接線材料-低電流量測
- 導線/連接線材料-低電阻與電容量測
- 介電材料-低電流, 崩潰電壓,電荷參數
- 絕緣體- 高阻量測,電阻係數
- 半導體-電阻係數量測
- 半導體-可靠度的加壓測試
- 超導體- 快速,低電壓的低雜訊量測
- 製程監測
- Focus Solutions
- 後段LTPS TFT/驅動接受-電晶體(Vt), 二極體電容,電阻 ,閘延遲
- 儀器認證-損壞度
- 閘/多晶-MOSCAP GOI, ECD, Vt
- 金屬-2-接點檢查,電子遷移,EWR
- 新技術-RF/DC ,SOC, FeRAMs, MRAMS, LCD-TEGs
- 可靠度測試解決方案
- Focus Solutions
- 加速老化測試-電源供應器, 監測溫度, 多點待測物量測
- 監測與實驗室環境參數-溫度與溼度量測,分布/遠端溝通,長壽命
- 品質保證測試(QAT)-模組式解決方案,驅動程式支援控制與訊號傳輸
- 晶圓級熱載子衰減-高準確度,低雜訊,同步加壓多個電晶體並量測微小衰減能力