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2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
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ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
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MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
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半導體

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Keithley是您在半導體測試解決方案值得信賴的領導者，產品範圍從材料研發到生產線上測試。在研發實驗室裡，Keithley的半導體特性分析系統提供優良的靈敏度與彈性，適合材料特性研、元件特性描繪、與驗證新的設計。Keithley同時在產線製程監控的自動參數測試機台居於領先的地位，有多項創新的設計助於加速測試與降低成本。自動參數測試機即為一個例子，在一次探針接觸中同時量測直流與RF參數，另一方面半導體特性系統的軟體介面將測試設定到量測結果簡化到幾個滑鼠操作。Keithley的系統在轉移至新應用時保有較低的轉換成本，很容易地與其他設備(如Handler、高速多通道開關、特殊測試用到的訊號源)通信。欲知Keithley在半導體測試的方案，請點選以下的連結。